光量子記錄儀在果樹研究中的應用
眾所周知，影響植物生長發育重要因素之一就是光合作用，對于果園而言，光合作用更是直接決定了其產量和品質，這是因為光照決定了果樹冠層內的葉片光合作用分布。果樹冠層具有非常復雜的異質性，在樹冠不同部位葉片的光合能力存在較大差異，這種差異主要是由葉片接受的輻射不同引起。果樹葉片在其發育過程中所接受輻射不同，其光合器官也會隨之改變，并改變葉片光合能力。因為樹冠不同部位葉片光合能力和所吸收的輻射成一定比例，可通過構建葉片和光合有效輻射之間的數學模型來模擬。對于光合有效輻射的測定記錄可以采用自記式光量子計進行。
利用自記式光量子計分析，不同有效輻射下葉片光響應曲線存在很大差異，弱光條件下生長的葉片整體光合值較小也沒有明顯的光飽和點，主要是因為這些葉片處在樹冠內膛或下層，受遮蔭影響難以達到光飽和點。當葉片RPAR大于40%后，葉片光合作用的光飽和點隨輻射條件改善而不斷減小。不同光合有效輻射下葉片光合作用的CO2濃度響應曲線也存在很大差異，弱光條件下生長葉片在CO2濃度很低時Pn就達到了飽和，而隨著輻射條件的改善，葉片光合作用的CO2飽和點也隨之升高，這主要是因為輻射改善后葉片變厚、葉綠素增多，所以其對CO2同化能力也隨之增強。
不同輻射條件下葉片溫度響應都呈“凸”字形曲線。最適溫度隨輻射條件的改善而升高，多數葉片為20-300C。樹冠上層和外圍葉片得到的輻射強，經常受到更多高溫脅迫，葉片的這種差異有利于提高樹冠整體光合能力，實現對光能的充分利用。
另外，通過光量子記錄儀的測定還能指導果園的管理修剪。果樹一般成行種植，有特定樹形結構，冠層內葉片具有很大的異質性，不同部位葉片所接受輻射和光合能力差異很大。單純研究葉片光合特性或利用分層模型研究樹冠光合特性都很難反映出樹冠整體的光合規律，特別是樹冠不同部位葉片光合差異圈。而這種差異對于研究果樹樹形特點、合理負載和精準修剪等都有非常重要的意義。
